發(fā)布時(shí)間:2017-10-29
同軸光源為反射度極高的表面提供對(duì)位及表面檢查照明,如金屬表面、薄膜、晶片、膠片及玻璃等的劃傷檢查、芯片和硅晶片的破損檢測(cè)、玻璃板的表面損傷、PC母板的圖譜檢測(cè)、印刷版的圖形檢查等。
發(fā)布時(shí)間:2017-10-25